Основная информация
Наименование: Экспериментальный эллипсометр LCP-25
Артикул:
Цена: По запросу
Написать в WhatsappРучной эллиптический поляриметр использует метод экстинкции для измерения толщины и показателя преломления пленки, а также вручную регулирует отклонение и угол отклонения в процессе измерения. Эллипсометрия широко применяется для измерения толщины диэлектрических тонких пленок на твердой подложке. Этот метод позволяет измерить толщину пленки с высочайшей точностью.
Технические характеристики
| Описание | Технические характеристики |
| Диапазон Измерения Толщины | 1 нм ~ 300 нм |
| Диапазон Угла падения | 30º ~ 90º, погрешность ≤ 0,1º |
| Угол пересечения поляризатора и анализатора | 0º ~ 180º |
| Дисковая Угловая Шкала | 2º на шкалу |
| Мин. Показания верньера | 0.05º |
| Высота Оптического Центра | 152 мм |
| Диаметр рабочей ступени | Φ 50 мм |
| Габаритные Размеры | 730x230x290 мм |
| Вес | Примерно 20 кг |
Список деталей
| Описание | Кол-во |
| Эллипсометр | 1 |
| Лазер He-Ne | 1 |
| Фотоэлектрический Усилитель | 1 |
| Фотоэлемент | 1 |
| Пленка диоксида кремния на кремниевой подложке | 1 |
| Компакт-диск с программным обеспечением для анализа | 1 |
| Руководство по эксплуатации | 1 |
Большой выбор оборудования и комплектующих
Быстрая качественная доставка
Без посредников
*Вся представленная на сайте информация, касающаяся продукции, носит информационный характер и ни при каких условиях не является публичной офертой, определяемой положениями Статьи 437 (2) Гражданского кодекса Российской Федерации. Для получения уточняющей информации, пожалуйста, обращайтесь по телефонам, указанным в разделе Контакты или запросом на электронную почту.